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掃描電子顯微鏡
場發(fā)射掃描電子顯微鏡
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產(chǎn)品分類JSM-IT810 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率,實現(xiàn)了自動化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能,使工作流程更加流暢高效。 此外,還新增了一些功能,確保所有SEM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)和更好的用戶體驗。FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡單。
JSM-IT710HR 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 清晰的可見性促進新發(fā)現(xiàn)! 目前,除了納米級的分辨率和分析性能外,數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM” 為理念而推出的HR*系列的第四代產(chǎn)品。 JSM-IT710HR操作的自動化和觀察性能的提高,可以實現(xiàn)用戶從可以看見到對未知的探索。
JSM-IT200 InTouchScope™ 日本電子掃描電鏡是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。