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透射電子顯微鏡（TEM）是一種先進的成像技術(shù)，它利用電子束穿透樣品并與其內(nèi)部原子相互作用，從而生成樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像。其原理基于電子的波動性質(zhì)，電子束經(jīng)過高壓加速后，通過聚光鏡聚焦，穿透樣品時受到樣品的調(diào)制，攜帶了樣品的內(nèi)部信息，再通過物鏡、中間鏡和投影鏡的放大，最終在熒光屏或照相底片上成像。TEM在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。在材料科學(xué)中，TEM常用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶體缺陷、相界面和納米尺度下的材料行為。通過TEM圖像，科學(xué)家可以了解材料的原子排...

透射電子顯微鏡的原理是利用電子束作為光源，通過電磁透鏡將電子束成像在熒光屏幕上，從而獲得樣品的形貌、結(jié)構(gòu)和組成等信息。具體來說，透射電子顯微鏡的工作原理可以分為以下幾個步驟：電子槍：透射電子顯微鏡使用熱陰極電子槍，通過加熱陰極材料發(fā)射出電子束。加速和聚焦：電子束通過加速電壓的作用，獲得足夠的能量，并且在電磁透鏡的作用下被聚焦成很細的電子束。樣品室：樣品被放置在樣品室內(nèi)，經(jīng)過電子束的轟擊后，透射電子通過樣品后帶有樣品的信息。電磁透鏡成像：透射電子經(jīng)過一系列的電磁透鏡后，經(jīng)過放大...

測角臺系統(tǒng)是透射電子顯微鏡（TEM）極其重要的硬件之一。無論是早期的頂插式還是目前主流的側(cè)插式，都需要操作人員手動將樣品桿插入或拔出測角臺。這種傳統(tǒng)的操作方式，易出錯且非常依賴實驗人員的操作熟練度，已經(jīng)無法滿足現(xiàn)階段材料研究和工業(yè)分析領(lǐng)域簡便高效、高通量的分析需求。日本電子場發(fā)射透射電子顯微鏡JEM-F200全新的測角臺系統(tǒng)了傳統(tǒng)的操作方式，實現(xiàn)了全自動進出樣品桿，并且兼顧了超高精度和穩(wěn)定性，是電鏡技術(shù)發(fā)展歷程中一個里程碑式的變革。插拔樣品桿作為透射電鏡操作的入門課程，傳統(tǒng)的...